Dipl.-Ing. Peter Leppelt

- Geboren 1977 in Neustadt bei Hannover
- Nach der Ausbildung zum Kommunikationselektroniker Aufnahme des zweiten Bildungsweges
- Studium der Elektro- und Informationstechnik in Hannover
- Zwei Jahre Berufstätigkeit als Projektingenieur im Bereich der Datenanalyse
- Zwei Jahre Berufstätigkeit als Wissenschaftlicher Mitarbeiter an der Universität Hannover; Forschungen im Bereich des Designs mikroelektronischer Systeme, Betreuung von Lehrveranstaltungen für Studenten und Schüler
- Fünf wissenschaftliche Veröffentlichungen
- Aktuell laufende Promotion zum Dr.-Ing.
- Gründung des Unternehmens praemandatum im März 2008
Interessensschwerpunkte
- Datenschutzproblematiken im Informationszeitalter
- Verantwortungsvoller Umgang mit Informationstechnologie
- Ethisch-Gesellschaftliche Aspekte neuer Technologien
Veröffentlichungen
- Heterodyne laser Doppler velocity profile sensor used for shear flow measurements with micrometer resolution (K. Shirai, L. Büttner, T. Pfister, P. Leppelt, J. Czarske, H. Müller, D. Dopheide, S. Becker, H. Lienhart, F. Durst)
Deutsche Gesellschaft für Laser-Anemometrie (GALA'04, Braunschweig) September 2004 - An Approach to Make Semiconductor Design Projects Comparable (P. Leppelt, A. Hassine, E. Barke)
7th Asia Pacific Industrial Engineering and Management Systems Conference (APIEMS'06, Bangkok, Thailand) Dezember 06 - Modellierung von Komplexität und Qualität als Faktoren von Produktivität in Design-Flows für integrierte Schaltungen (Universität Oldenburg: S. Häusler, F. Poppen, S. Preis, K. Hausmann, W. Nebel, A. Hahn
Universität Hannover: P. Leppelt, A. Hassine, E. Barke)
Electronic Design Automation Workshop (edaWorkshop'07, Hannover) Juni 2007 - Building Up a Performance Measurement System to Determine Productivity Metrics of Semiconductor Design Projects (N. Hinrichs, P. Leppelt, E. Barke)
19th International Engineering Management Conference (IEMC'07, Austin, USA) Juli 2007 - Determining the Technical Complexity of Integrated Circuits (P. Leppelt, E. Barke)
Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE'08, München) März 2008

